日本電子掃描電鏡用于觀(guān)察和測量各種樣品，包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡(jiǎn)單，只要放上樣品，就可以輕松地完成 3D 觀(guān)察、測量、報告自動(dòng)生成等一系列操作。

JEM-2100 時(shí)間分辨電子顯微鏡及相關(guān)附件是利用一個(gè)或多個(gè)激光器進(jìn)行pump-探針實(shí)驗而設計的用于研究樣品中的瞬態(tài)現象。 用戶(hù)可以直接用激光激發(fā)樣品，紫外激光產(chǎn)生光電子探針脈沖，在成像、衍射、光譜或光譜成像模式下對樣品進(jìn)行探測。